信頼性の説明
信頼性（Reliability）は、デバイスの耐久性を示すものであり、安路科技（Anlogic Infotech）は、主にJESD47テストガイドラインに基づき、さまざまな実験を通じてデバイスを評(píng)価します。
ウェーハプロセスに関連する信頼性（HCI、BTI、TDDB、GOI、EM、SM……）
回路に関連する信頼性（ESD、Latch-up、HTOL、LTOL……）
パッケージングに関連する信頼性（PC、TCT、HTSL、(U) HAST……）
ボードレベルに関連する信頼性（BTC……）
これらのテスト條件は、実際のアプリケーションシナリオよりもはるかに厳しいものです。半導(dǎo)體ウェーハやパッケージの潛在的な弱點(diǎn)を引き出し、デバイスの初期欠陥を除去し、信頼性指標(biāo)を確認(rèn)し、耐用年數(shù)を評(píng)価し、信頼性の向上を図ります。テストデータはデバイスの信頼性を示すために収集され、不合格品の障害原因を詳細(xì)に分析し、クローズドループで効果的な是正措置を?qū)g施します。
安路科技（Anlogic Infotech）は現(xiàn)在、以下の規(guī)格に基づいています（最新バージョンについては、JEDEC公式サイトをご確認(rèn)ください）。
| No. | ドキュメント | 規(guī)格狀態(tài) | 規(guī)格プロジェクト |
|---|---|---|---|
| 1 | JESD47 | 現(xiàn)行 | 集積回路の圧力試験 |
| 2 | JESD22-A113 | 現(xiàn)行 | 非密閉型表面実裝デバイスの信頼性試験前の前処理 |
| 3 | JESD22-A100 | 現(xiàn)行 | サイクル溫濕度バイアス壽命試験 |
| 4 | JESD22-A101 | 現(xiàn)行 | 定常溫濕度バイアス壽命試験 |
| 5 | JESD22-A102 | 現(xiàn)行 | 加速耐濕性 - バイアスなしオートクレーブ試験 |
| 6 | JESD22-A103 | 現(xiàn)行 | 高溫保存壽命試験 |
| 7 | JESD22-A104 | 現(xiàn)行 | 溫度サイクル試験 |
| 8 | JESD22-A106 | 現(xiàn)行 | 熱衝撃試験 |
| 9 | JESD22-A110 | 現(xiàn)行 | 高加速溫濕度ストレス試験（HAST）（バイアス電圧あり、不飽和高圧蒸気） |
| 10 | JESD22-A118 | 現(xiàn)行 | 加速耐濕性 - バイアスなしHAST（バイアス電圧なし、不飽和高圧蒸気） |
| 11 | J-STD-002D | 現(xiàn)行 | はんだ付け性試験 |
| 12 | JESD22-B115 | 現(xiàn)行 | はんだボール引き抜き試験 |
| 13 | JESD22-B116 | 現(xiàn)行 | ワイヤボンドせん斷試験 |
| 14 | JESD22-B117 | 現(xiàn)行 | はんだボールせん斷試験 |
| 15 | JESD78 | 現(xiàn)行 | ラッチアップ試験 |
| 16 | JESD22- A108 | 現(xiàn)行 | 溫度、バイアスおよび壽命試験 |
| 17 | JS-001 | 現(xiàn)行 | 靜電放電感受性試験（HBM：人體モデル） |
| 18 | JS-002 | 現(xiàn)行 | 靜電放電感受性試験（CDM：デバイス充放電モデル） |
| 19 | J-STD-020 | 現(xiàn)行 | 非密閉型表面実裝デバイス（SMD）の濕度/リフロー感度分類 |
| 20 | JEDEC-SPP-024 | 現(xiàn)行 | ボールグリッドアレイ（BGA）パッケージングのリフロー平坦性要件 |
| 21 | JESD89-3 | 現(xiàn)行 | ビーム加速ソフトエラー率の試験要件 |
| 22 | JESD85 | 現(xiàn)行 | デバイス故障率の計(jì)算方法 |
デバイスの耐用年數(shù)
デバイスの耐用年數(shù)とは、指定されたストレス環(huán)境下で、デバイスの性能指標(biāo)や受け入れ要件が製品仕様に適合する期間を指します。通常、デバイスの最も脆弱な部分がその耐用年數(shù)を決定します。デバイスの故障率分布がワイブル関數(shù)に従う場(chǎng)合、累積故障率が63.2%未満になる時(shí)間が、そのデバイスの特性壽命として定義されます。これを表す特性壽命曲線（バスタブ曲線）は、次の3つの部分で構(gòu)成されます：
1. 第一部分：時(shí)間の経過とともに故障率が低下する早期故障（early failure）。
2. 第二部分：ほぼ一定の故障率で、ランダム故障（random failure）。
3. 第三部分：設(shè)計(jì)壽命を超えると、時(shí)間の経過とともに故障率が増加する摩耗故障（wear out）。
安路科技（Anlogic Infotech）は、JESD85（FIT単位で故障率を計(jì)算する方法）に基づいて、製品の故障を統(tǒng)一的に評(píng)価します。
計(jì)算方法は以下の通りです：
安路科技（Anlogic Infotech）は、さまざまな動(dòng)作環(huán)境におけるデバイスの信頼性を評(píng)価するために、一般的に受け入れられる一連の圧力試験基準(zhǔn)に基づき、優(yōu)れた信頼性パフォーマンスを保証します。
信頼性データ
安路科技（Anlogic Infotech）は、すべての製品が最高品質(zhì)であることを保証するため、極めて信頼性の高い監(jiān)視および予防計(jì)畫を?qū)毪筏皮い蓼?。安路科技?span style="">Anlogic Infotech）は、最先端の設(shè)備と技術(shù)を活用し、すべての主要なプロセスにおいて信頼性試験を?qū)g施しています。加速環(huán)境下での圧力試験の結(jié)果を標(biāo)準(zhǔn)の動(dòng)作條件に外挿することで、製品の有効な壽命を予測(cè)し、業(yè)界最高水準(zhǔn)の信頼性を持つ製品であることを保証します。
詳細(xì)な信頼性データについては、営業(yè)擔(dān)當(dāng)者または販売特約店にお問い合わせください。
